Ultraschall -Rastermikroskop:Das Gerät wird verwendet, um alle Arten von Halbleitergeräten und -materialien zu erfassen und Defekte wie Poren, Risse, Einschlüsse und Delaminationen innerhalb der Probe zu erkennen und sie grafisch visuell anzuzeigen.
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Ausrüstunggröße |
1000 mm × 900 mm × 1400 mm |
Stromversorgung |
AC 220V, 10a |
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Interne Tankgröße |
620 mm × 650 mm × 150 mm |
Quellgas |
CDA |
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Effektiver Scanbereich |
350 mm × 300 mm × 100 mm |
Wasser |
Di Wasser |
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Max -Scangeschwindigkeit |
600 mm/s |
Produktfunktion und Anwendung
- Die Scan -Ergebnisse sind klar und genau.
- Defekte Erkennung bis 0. 15mm.
- Leistungsstarke Software: Standardmessmodus, verschreibungspflichtiger Bearbeitungsmodus, Gerätewartungsmodus.
- Mehrere Scan -Modi: Ein Scan, C -Scan, T -Scan, Bereichscan, Batch -Scan.
- Die Sonde ist mit dem C-Scan-Bild ausgerichtet.
- Automatische Berichtserstellung
- Automatische Statistiken und Berechnung der Fehlergröße und Fläche
- One-Click-Automatikkalibrierung
- Multi-Layer-Scanfunktion gleichzeitig
- Dickenerkennung, Dichteerkennung, Fehlererkennung, Schallgeschwindigkeitserkennung.
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Zertifikat
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FAQ
F: Was ist SAT?
A: Ultraschall-Scanmikroskop (SAT) ist eine Art nicht-zerstörerische Testbildgebungsgeräte mit Ultraschall wie die Medien. Es verwendet hauptsächlich Hochfrequenz-Ultraschall, um alle Arten von Halbleitergeräten und -materialien zu erkennen, und kann die Defekte wie Poren, Risse, Einschlüsse und Delaminierung innerhalb der Probe erkennen und diese visuell auf grafische Weise anzeigen. Im Scanprozess wird die Probe nicht beschädigt und die Leistung der Probe nicht beeinflusst, die den Qualitätsregelungsbedarf von Keramiksubstrat, IGBT, wassergekühlten Kühler, Batterie, Halbleiter, elektrischen Schweißteilen, Diamantverbundstoffen, Kohlenstofffaserverbundwerkstoffen und anderen Produkten entsprechen kann.
F: Für welche Produkte?
A: Geeignet für alle Arten von Halbleitergeräten und anderen Produkten, die eine fehlerhafte Erkennung erfordern.
F: Wie wähle ich den richtigen SAT aus?
A: Wählen Sie gemäß verschiedenen Produktgrößen und funktionalen Anforderungen aus:
- Wählen Sie die Sonde nach verschiedenen Produktdicken aus
- Wählen Sie Modelle gemäß verschiedenen Scanbereichen aus
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